電極損耗：氘燈工作時電極持續(xù)濺射，鎢材質(zhì)電極逐漸損耗，導(dǎo)致放電效率下降。通常使用 2000 小時后，電極損耗會使光強衰減 30% 以上；

石英窗污染：樣品揮發(fā)物、實驗室粉塵附著在氘燈石英窗口，形成吸收層。尤其在檢測高揮發(fā)性樣品時，污染物沉積速率加快，可使 254nm 處光強在 1 個月內(nèi)下降 50%；

氘氣泄漏：燈殼密封老化導(dǎo)致氘氣緩慢泄漏，當(dāng)氣壓低于 0.5atm 時，放電穩(wěn)定性顯著下降，光強呈現(xiàn)斷崖式衰減。

電源模塊故障：氘燈供電需高頻高壓啟動（約 3kV）與低壓穩(wěn)定供電（約 12V）配合，電源模塊電容老化或高壓變壓器損壞會導(dǎo)致啟動失敗；

電極氧化：長期閑置或?qū)嶒炇覞穸瘸瑯?biāo)（＞65% RH），會使電極表面形成氧化層，增加點火難度。統(tǒng)計顯示，閑置超過 3 個月的氘燈，啟動失敗率提升 40%；

燈座接觸不良：頻繁更換氘燈導(dǎo)致燈座金屬觸點磨損，或殘留的石英碎屑造成接觸電阻增大，引發(fā)間歇性熄滅。

放電不穩(wěn)定：氘氣純度不足（低于 99.999%）時，雜質(zhì)氣體參與放電過程，產(chǎn)生額外的發(fā)射峰；

燈殼變形：高溫環(huán)境下（超過 40℃）氘燈外殼發(fā)生輕微變形，導(dǎo)致光軸偏移，與單色器耦合效率下降；

電子元件老化：儀器光源驅(qū)動電路中的濾波電容老化，導(dǎo)致供電電壓紋波系數(shù)增大，引發(fā)光強波動。

開關(guān)頻率：每次啟動氘燈時，電極經(jīng)歷劇烈的冷熱交替和離子轟擊，壽命損耗相當(dāng)于正常工作 2-3 小時。頻繁開關(guān)（每日超過 5 次）會使壽命縮短 30%；

工作電流：超出額定電流 10% 運行時，氘氣消耗速率加快，同時電極濺射加劇，壽命可縮短 40%；

環(huán)境條件：實驗室溫度每升高 10℃，氘燈壽命縮短 15%；相對濕度超過 65% 時，燈座金屬觸點腐蝕速率顯著加快；

使用模式：連續(xù)長時間工作（超過 8 小時 / 天）比間歇性工作的氘燈壽命短 20%，主要因電極持續(xù)高溫導(dǎo)致?lián)p耗加劇；

樣品污染：分析高揮發(fā)性或含腐蝕性成分樣品時，若樣品室密封性差，污染物易附著在氘燈窗口，不僅影響光強，還會加速石英窗老化。

光強衰減判定法：通過儀器自帶的光源監(jiān)測功能，測量 254nm 或 340nm 處的光強值。當(dāng)光強衰減至初始值的 50% 以下，或無法通過增益調(diào)節(jié)使基線達到正常水平時，判定為壽命終點；

基線噪聲判定法：在空白溶劑條件下，掃描 190-400nm 基線，若 254nm 處基線噪聲超過 0.001AU（1cm 光程），且經(jīng)清潔燈窗、更換燈座后無改善，表明氘燈已達壽命終點；

使用壽命計時法：建立氘燈使用臺賬，記錄每次啟動和關(guān)閉時間，累計使用時間達到額定壽命的 90% 時，開始密切監(jiān)測光強變化；達到額定壽命 100% 時，建議更換；

分析性能驗證法：使用標(biāo)準(zhǔn)物質(zhì)進行校準(zhǔn)驗證，若同一樣品的多次測量相對標(biāo)準(zhǔn)偏差（RSD）超過 2%，或檢測限較初始狀態(tài)升高 50% 以上，即使氘燈未達額定壽命，也需更換；

目視檢查法：關(guān)閉儀器后觀察氘燈石英窗，若出現(xiàn)明顯發(fā)黑、斑點或裂紋，或電極出現(xiàn)嚴(yán)重損耗（肉眼可見的變形或剝落），可直接判定為壽命終點。

規(guī)范操作流程：建立氘燈使用 SOP，減少不必要的開關(guān)操作，每次使用后等待氘燈冷卻至室溫（約 30 分鐘）再關(guān)閉儀器；

優(yōu)化工作參數(shù)：嚴(yán)格按照額定電流運行，避免超功率使用；根據(jù)分析需求選擇合適的波長范圍，減少不必要的全波長掃描；

改善環(huán)境條件：實驗室配備恒溫恒濕系統(tǒng)，控制溫度在 20-25℃，相對濕度 40%-60%；定期清潔樣品室和光源室，防止污染物堆積；

定期維護保養(yǎng)：每 3 個月清潔燈座觸點，去除氧化層和雜質(zhì)；每 6 個月檢查電源模塊輸出電壓穩(wěn)定性，及時更換老化電子元件；

質(zhì)量管控：采購符合國家標(biāo)準(zhǔn)的高純度氘燈（氘氣純度≥99.999%），避免使用劣質(zhì)替代產(chǎn)品；新燈安裝前檢查燈殼密封性和電極狀態(tài)。